Diagnostic de circuits et systemes microlectroniques complexes
Acronym
Type
research
Duration
1995 - 1996
Content
L'objectif de ce projet de recherche est le dveloppement de mthodologies pour le diagnostic de circuits et syst?mes complexes en vue d'assurer leur globale qualit. En particulier, les approches ? base de mod?les profonds pour le diagnostic de circuits digitaux, mixtes et analogiques seront tudies. Dans ce cadre, l'tude de l'impact de la technique Boundary-Scan sur le diagnostic des circuits digitaux complexes, ainsi que l'tude et le suivi des travaux concernant l'mergence du standard de bus de test mixte analogique-digital feront galement l'objet de travaux communs. La prsente proposition de projet supposant une collaboration ? long terme entre les deux laboratoires, un effort spcial sera fait en vue d'assurer la compatibilit entre les environnements de conception des deux instituts, dans le but de faciliter le travail commun et la bonne diss?mination des r?sultats de recherche. Ceci implique que l'Institut Jozef Stefan puisse tablir des liens de coopration avec le service franais CMP (Circuits Multi-Projets), dont l'activit est gre au niveau national par le Laboratoire TIMA.
Funding
PROTEUS